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光切法显微镜的测量
光切法显微镜的测量
      狭缝被光源发出的光线照射后，光切法显微镜通过物镜发出一束光带以倾斜45°方向照射在被测量的表面。具有齿状的不平表面，被光亮的具有平直边缘的狭缝像的亮带照射后，表面的波峰在S点产生反射。
轮廓平面度的测量
      光切法显微镜为测量表面轮廓平面度，需使狭缝平行的分划水平线与狭缝清晰边缘（下面边）*高点相切。然后记上在目镜分划板与测微鼓上的读数，再使十字线的水平线与狭缝隙清晰边缘*低点相切，第二次记下分划板与鼓轮的读数，两次读数之差为：
a = —— (2) ，将式（2）中的N代入式（1）后得
h = ——（3），式中：a—分划板的两次读数差。
为求出平面度平均高度值RZ，要求取被测轮廓的五个*高点（峰）和五个*低点（谷）之间的平均读数a平均，再按式（3）计算出h，即平面度平均高度值RZ，再可按表2查出表面粗糙度等级。

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